実装回路の電源電流による断線検出用組込型検査回路に関する研究
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| ID | 118242 |
| タイトル別表記 | Built-in Electrical Interconnect Test Circuits for Open Defect Detection Based on Supply Current
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| 著者 |
Kanda, Michiya
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| キーワード | electrical test
interconnect test
open defect
testable design
design for testability
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| 資料タイプ |
Thesis or Dissertation
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| 発行日 | 2023-03-06
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| 備考 | 内容要旨・審査要旨・論文要約の公開
論文本文は2024-09-01以降公開予定 |
| 文科省報告番号 | 甲第3682号
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| 学位記番号 | 甲先第442号
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| フルテキストファイル | |
| 言語 |
jpn
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| 著者版フラグ |
その他
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| 学位授与年月日 | 2023-03-06
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| 学位名 |
Doctor of Engineering
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| 学位授与機関 |
Tokushima University
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