項目名
ID 118335
タイトル別表記
Reliability Enhancement in Assembled Ciruit Boards and 3D Stacked Memory ICs
著者
伊喜利, 勇貴
キーワード
電気検査法
IC実装基板
相互接続
弛張発振器
抵抗断線
資料タイプ
Thesis or Dissertation
発行日
2023-03-23
備考
内容要旨・審査要旨・論文本文の公開
文科省報告番号
甲第3727号
学位記番号
甲先第451号
フルテキストファイル
言語
jpn
著者版フラグ
ETD
学位授与年月日
2023-03-23
学位名
Doctor of Engineering
学位授与機関
Tokushima University