ID | 118242 |
タイトル別表記 | Built-in Electrical Interconnect Test Circuits for Open Defect Detection Based on Supply Current
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著者 |
Kanda, Michiya
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キーワード | electrical test
interconnect test
open defect
testable design
design for testability
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資料タイプ |
Thesis or Dissertation
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発行日 | 2023-03-06
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備考 | 内容要旨・審査要旨・論文要約の公開
論文本文は2024-09-01以降公開予定 |
文科省報告番号 | 甲第3682号
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学位記番号 | 甲先第442号
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フルテキストファイル | |
言語 |
jpn
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著者版フラグ |
その他
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学位授与年月日 | 2023-03-06
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学位名 |
Doctor of Engineering
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学位授与機関 |
Tokushima University
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