| ID | 118242 |
| タイトル別表記 | Built-in Electrical Interconnect Test Circuits for Open Defect Detection Based on Supply Current
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| 著者 |
神田, 道也
徳島大学大学院先端技術科学教育部（システム創生工学専攻）
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| キーワード | electrical test
interconnect test
open defect
testable design
design for testability
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| 資料タイプ |
学位論文
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| 発行日 | 2023-03-06
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| 備考 | 内容要旨・審査要旨・論文要約の公開
論文本文は2024-09-01以降公開予定 |
| 文科省報告番号 | 甲第3682号
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| 学位記番号 | 甲先第442号
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| フルテキストファイル | |
| 言語 |
jpn
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| 著者版フラグ |
その他
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| 学位授与年月日 | 2023-03-06
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| 学位名 |
博士（工学）
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| 学位授与機関 |
徳島大学
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